- PCT測試箱
- HAST小黄片软件下载
- 高壓滅菌鍋
- 恒溫恒濕小黄片软件下载
- 可程式高低溫小黄片软件下载
- 環境試小黄片下载软件大全
- 飽和型高壓加速老化小黄片软件下载
- 非飽和高壓加速壽命小黄片APP污版下载
- 溫度濕度高低溫循環小黄片APP污版下载
- 快速溫度變化小黄片APP污版下载
- 高低溫交變小黄片软件下载
- 冷熱衝擊小黄片APP污版下载
- 耐光小黄片APP污版下载
- 步入式恒溫恒濕試驗室
- 耐候小黄片APP污版下载(紫外線/日光式)
- 高壓加速老化小黄片APP污版下载(PCT)
- 鹽水噴霧小黄片APP污版下载—耐腐蝕小黄片APP污版下载
- 耐水小黄片APP污版下载
- 耐塵小黄片APP污版下载
- 高溫小黄片APP污版下载
- 真空高溫小黄片APP污版下载
- 蒸氣老化小黄片APP污版下载
- 換氣式老化小黄片APP污版下载
- 電氣加熱高溫爐
- 耐黃變小黄片APP污版下载
- 電子除濕防潮箱
- 真空老化小黄片APP污版下载
- 工頻振動小黄片APP污版下载
- 高溫高濕小黄片软件下载
- 溫度濕度鹽霧複合式小黄片软件下载
- 溫度濕度振動三綜合小黄片APP污版下载
- 非標測試設備
- 熱老化小黄片APP污版下载
- 冷熱衝擊試驗儀
- 高低溫循環小黄片APP污版下载
- 恒溫小黄片软件下载
- 高溫高濕小黄片APP污版下载
- LED測試設備
- 太陽能光伏組件測試設備
- 快速溫度變化小黄片软件下载
- UV紫外線老化試驗
- 步入式恒溫恒濕室
- 振動衝擊小黄片APP污版下载
- 淋雨/沙塵小黄片软件下载
- 其它儀器
- 電腦、手機試小黄片下载软件大全
- 90度剝離強度小黄片APP污版下载
- AS-6300D全自動扭力小黄片APP污版下载
- AS-8330單軸按鍵壽命小黄片APP污版下载
- AS-6300C NOTE-BOOK轉軸壽命小黄片APP污版下载
- AS-6300B NOTE-BOOK轉軸壽命小黄片APP污版下载
- AS-6300A NOTE-BOOK轉軸壽命小黄片APP污版下载
- R.C.A紙帶耐磨小黄片APP污版下载
- AS-5600耐磨擦小黄片APP污版下载
- AS-8330C按鍵壽命小黄片APP污版下载
- AS-8330B按鍵壽命小黄片APP污版下载
- AS-8330A氣動式按鍵壽命小黄片APP污版下载
- 手機翻蓋壽命小黄片APP污版下载AS-6300B
- 手機跌落試驗台AS-DP-01
- AS-8818電腦式全自動插拔力小黄片APP污版下载
- 插拔力小黄片APP污版下载
- 光學儀器
- 紙品試小黄片下载软件大全
- 力學試小黄片下载软件大全
- 金相設備
- 高溫高壓蒸煮儀的結構特點及應用領域 2025-01-16
- 如何解決恒溫恒濕小黄片软件下载溫度降得慢 2025-01-13
- 非飽和高壓加速壽命小黄片APP污版下载能夠更精確地模擬實際工作環境 2024-12-21
- 快速溫變小黄片软件下载的溫度波動度和溫度均勻度是多少 2024-12-09
- 半導體pct小黄片APP污版下载的結構組成與工作原理 2024-11-21
- 快速溫變小黄片软件下载設備工藝 2024-11-15
- 溫度濕度高低溫循環小黄片APP污版下载能夠精確控製小黄片软件下载內的濕度 2024-10-29
- 高低溫濕熱小黄片软件下载的維護方法 2024-10-16
小黄片入口接線端子hast高壓加速老化小黄片软件下载 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 的目的是提高環境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產品或係統的壽命試驗時間。用於調查分析何時出現電子元器件和機械零件的磨耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數呈什麽樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
接線端子hast高壓加速老化小黄片软件下载產品規格:
溫度範圍:+105.0℃~+142.9℃
濕度範圍:75%~100%RH
溫濕度穩定度:±0.5℃、±3℃RH
溫度分布均度:±1℃
壓力範圍:0.2~2.0kg/cm2G(選配0.2~4.0kg/cm2G)
升溫時間:室溫上升140℃需約120分鍾
內箱尺寸:¢45×45/¢65×60
材質:內外不鏽鋼板
電源:1¢220V60HZ/380V50HZ20A
接線端子hast高壓加速老化小黄片软件下载產品特點:
1、圓形橫置式內槽結構設計方便使用者取置待測品
2、馬達驅動磁性風扇機構循環(溫度/濕度分布均勻佳)
3、安全程序自動停機,自動泄壓,自動破真空,自動給水
4、HAST設備本體材質SUS#316,外部包裝材質SUS#304
5、電磁風扇馬達循環裝置濕度分布均勻
6、飽和或不飽和可程控模式
7、溫度/濕度/濕球/溫度/壓力/電壓顯示
接線端子hast高壓加速老化小黄片软件下载詳細說明
隨著半導體可靠性的提高,目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效,因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間,采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型:即PCT和USPCT(HAST)現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(電工委員會)所標準化。